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기술자료
| 광학 현미경 검사 방법 | |||||
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| 글쓴이 | 관리자 (IP: *.39.189.145) | 작성일 | 2017-09-06 11:18 | 조회수 | 2,385 |
광학 현미경 검사 방법  1. 시편 가공 시편의 표면 상태는 빛의 반사 또는 투과에 영향을 끼친다. 이 효과의 유효한 정도는 검사와 연관된 유형과 크기에 따라 결정된다. 요구되는 표면 품질 및 대비를 얻기 위해서는 올바른 시편 가공이 필수적이다.  2. 조명 공급 표면의 이미지는 빛과 표면 간의 상호 작용을 기반으로 한다. LED, 할로겐, 머큐리 등 다른 조명 공급원과 coaxial, ring light, point light 과 같은 다른 유형의 조명을 이용하여 다양한 표면을 검사하여 거칠기와 색상 또는 배열 등의 표면 성질을 검사할 수 있다. 복잡한 지형을 검사하기 위해서는 올바른 조명 공급이 필수적이다. 3. 필터 Brightfield (BF) 대비는 가장 일반적으로 사용되는 대비 기술이다. 반사율의 차이를 이용하여 세부 사항을 식별한다. DarkField (DF), 차등 간섭 대비 (Differential Interference Contrast, DIC) 및 편광 (Polarized Light, POL) 과 같은 대비 기술을 이용하여 BF 를 이용하여 볼 수 있는 것과는 다른 세부 사항을 관찰할 수 있다. 광학 현미경 검사에서의 필터 선택은 표면의 성질과 검사하고자 하는 특징 및 세부 사항에 따라 결정된다.  DarkField – 플라스틱 레이어 DarkField 를 이용하여 서로 다른 플라스틱 레이어의 본연의 색상을 확인할 수 있다.  DarkField – Polishing 결과물의 품질 가는 스크래치, 기공 및 요소 이탈 현상 등은 BF 보다 DF 를 이용했을 때 더 용이한 식별이 가능하다. 기공 및 갈라짐 등의 이상 현상은 렌즈로 빛을 반사하는 반면, polishing 이 잘 이루어진 모든 면은 어둡게 나타난다. 이 기술을 이용하여 기공과 함유물 및 매우 미세한 갈라짐의 발달 식별 및 polishing 결과물의 품질 식별이 가능하다.  DarkField – 반투명 상 반투명 상은 고유의 색상을 이용하여 식별 가능하다; 예를 들어, 구리 산화물 (Cu2O) 함유물은 Brightfield 상에서는 회색으로 보이나, Darkfield 상에서는 어두운 붉은 빛을 띄므로 구리 기반 재질로부터 식별이 가능하다.  편광 (Polarized Light) 편광은 다음의 경우에 사용된다: - 에칭이 어려운 광학 이방성 금속 구조의 대비. Ex) 일부 titanium 및 tin alloys, beryllium, 또는 uranium. - 많은 합금 합성물과 슬래그 함유물을 고유의 이방성 효과를 이용하여 식별. - 광학 이방성 상과 광학 등방성 상의 구별. - 광학 등방성 금속을 검사하여 표면이 에칭을 통해 광학적으로 활성화가 가능한지 확인 (Ex: 양극 처리, anodizing).  차등 간섭 대비 (Differential Interference Contrast) DIC 를 이용하여 양각 현상의 관찰이 가능하다. 예를 들어, 형태를 통해 특별한 유형의 합금 상을 감지할 수 있다.  형광 시편의 형광성을 띄지 않는 부분은 어둡게 나타나며, 성형 재질에 형광 염색제를 사용하는 것을 통해 갈라짐과 기공을 쉽게 식별할 수 있다. 4. 이미지 취득 위의 내용에 추가로, 참 미세조직을 담아내는 것은 특정 요소들에 영향을 받으며 이는 이미지 취득에 있어 중요하다. 가장 중요한 요소들 두 가지에는 노출과 white balance 가 있다. |
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