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기술자료
| 현미경 검사에 대하여 / 현미경 검사의 유형 | |||||
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| 글쓴이 | 관리자 (IP: *.39.189.145) | 작성일 | 2017-09-06 11:12 | 조회수 | 1,749 |
현미경 검사에 대하여 시편의 검사 현미경 검사는 작은 특징이 더 잘 보이도록 하기 위해, 인공적인 비율을 이용하여 시편을 검사하는 데 사용된다. 이는 눈으로만 시편을 검사하는 육안 검사와 대비된다. 광학 현미경 검사는 최대 1,000 배의 배율로 미세 구조를 검사하는 데 사용된다. 최대 500,000 배의 배율을 사용하는 전자 현미경 검사는 일반적으로 연구개발 실험실에서의 실패 분석 및 교육 기관에서 사용된다. 
현미경 검사의 유형 재료학적 검사에는 네 가지 유형의 검사가 사용되며, 어떠한 유형을 사용할 지는 시편의 성질 및 검사의 목적에 따라 다르다. 세부적인 사항은 아래와 같다.  광학 현미경 검사 광학 현미경 검사에는 재료의 성질을 기반으로 특정 특징을 강조하고 대비를 개선하기 위해 다양한 필터들이 사용된다. 이는 일반적으로 2.5 배에서 최대 1,000 배까지의 배율을 사용하여 가능하다. 재료학에서는, 빛을 이용한 광학 현미경 검사 시 반사광이 가장 보편적으로 사용된다. 투과 광학 현미경도 사용되나 이는 주로 광물학 시편의 검사에 사용된다.  입체 광학 현미경 검사 입체 현미경은 광학 현미경의 일종으로, 시편의 표면에 반사된 빛을 이용하여 낮은 배율로 시편을 관찰하는 데 사용된다.  주사 전자 현미경 검사 주사 전자 현미경 (scanning electron microscope, SEM) 은 전자 현미경의 일종으로, 시편 표면을 전자 빔의 초점을 맞추어 스캔하여 이미지를 생성한다. 전자가 시편의 원자와 반응하여, 표면 형상 및 시편의 구성에 대한 정보로 변환할 수 있는 다양한 신호를 생성한다.  투과 전자 현미경 투과 전자 현미경 (Transmission electron microscopy, TEM) 은 매우 얇은 시편을 통과하고 그 과정에서 시편과 반응하는 전자 빔을 사용한다. 생성된 시그널은 다양한 유형의 정보로 해석이 가능한데, 이에는 개별 결정의 유형과 경향 또한 포함된다. |
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